對保偏光纖環進行全長度的分布式串擾測量 ，精準定位環內異常串擾點 ，評估光纖環的整體偏振性能 ，為光纖環的生產工藝優化、質量控制以及故障排查提供有力支持 ，確保光纖環在實際應用中的穩定性和可靠性。
2.波導芯片的消光比及雙折射測量
精確測量 Y 波導芯片等波導器件的偏振消光比和雙折射特性 ，分析波導結構對偏振光的調控能力 ，為波導芯片的設計改進、性能提升以及質 量檢測提供關鍵數據 ，推動光電子器件技術的發展與創新。
分布式偏振串擾測試儀OLI-P是基于白光干涉的，采樣分辨率優 于2cm ， 噪聲靈敏度可達-90dB。設備可高精度測量保偏光纖環、Y波 導芯片等器件的分布式偏振串擾。通過偏振串擾測試 ，精準定位保偏光路 中異常串擾點位置、分析連接頭或耦合端面質量、測量保偏器件芯片的偏振消光比等。該產品可用于產品工藝設計改進或產線批量檢測。
分布式偏振串擾測試儀OLI-P產品特點：
分布式測量保偏器件串擾
高采樣分辨率和定位精度
靈敏度高、測量動態范圍大
測量時間短
分布式偏振串擾測試儀OLI-P主要應用：
1.保偏光纖環的分布式串擾測量
對保偏光纖環進行全長度的分布式串擾測量 ，精準定位環內異常串擾點 ，評估光纖環的整體偏振性能 ，為光纖環的生產工藝優化、質量控制以及故障排查提供有力支持 ，確保光纖環在實際應用中的穩定性和可靠性。
2.波導芯片的消光比及雙折射測量
精確測量 Y 波導芯片等波導器件的偏振消光比和雙折射特性 ，分析波導結構對偏振光的調控能力 ，為波導芯片的設計改進、性能提升以及質 量檢測提供關鍵數據 ，推動光電子器件技術的發展與創新。
分布式偏振串擾測試儀OLI-P參數：
主要參數 | ||
基礎參數 | ||
工作波長 | 1290 ~ 1330 /1530~1570 | nm |
測量長度1 | >1.4 | km |
采樣分辨率2 | ＜2 | cm |
串擾重復性 | ±1 | dB |
事件點分辨率 | 20 | cm |
測量時間3 | ＜15 | s |
串擾測量動態范圍 | 75 | dB |
噪聲靈敏度? | -90 | dB |
硬件 | ||
輸入電壓 | AC 220/110V；DC 12V | - |
主機功率 | 60 | W |
通訊接口 | USB | - |
光纖接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
儲存溫度 | 0 ~ 50 | ℃ |
工作溫度 | 0 ~ 40 | ℃ |
儲存與工作濕度 | 10 ~ 70 | %RH |
備注：
1. 光纖線性雙折射按Δn=5×10-4計
2. 光纖線性雙折射按Δn=5×10-4 ，設備可設置的最大采樣分辨率
3. 設備滿量程測量時，測量時間小于14s
4. -90dB指最大串擾峰低于-70dB時噪聲水平（底噪平均值）
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